【專利技術突破】
- 2018.08 取得「檢測薄膜電晶體基板之方法及其裝置」發明專利
- 2018.08 取得「薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置」(Ⅱ)發明專利
- 2018.08 成立AI研發團隊，導入AI技術應用及開發
- 2018.08 投入智能化OST檢測系統開發，強化技術能量
- 2017.09 取得「用於判定一導電圖案好壞之檢查裝置」新型專利
- 2017.09 取得「薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置」(Ⅰ)發明專利
- 2017.05 取得「治具調整方法」(Ⅱ)發明專利
- 2017.01 取得「治具調整方法」(Ⅰ)發明專利