🎌 日本特許承認
特許名称： 薄膜トランジスタパネル欠陥の検査方法およびその装置
特許番号： JP 6668427
出願人： 興城科技股份有限公司
興城科技はこの度、日本で特許を取得しました。
本特許技術はTFTパネル（薄膜トランジスタパネル）の欠陥検査に焦点を当てており、非接触スキャンとモジュール化された装置設計を組み合わせることで、検査精度と生産ラインの効率を効果的に向上させます。AMOLED、LCDなど多種類のパネルに適用可能です。
本特許は、当社の国際的な技術展開における重要な要素であり、すでに量産プロセスにも実用化されています。産業界からの連携・提携に関するお問い合わせを歓迎いたします。
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