ASIC搭載 超高速 OPEN SHORT検査装置

当社は、日本子会社のエーアイテクノロジー株式会社が保有する非接触電気検査技術と、自社のテスターコア開発能力を組み合わせ、自社製 ASIC の開発に大規模投資を行いました。
この技術革新により、従来の電気検査装置が抱えていた技術的制約を克服し、IC パッケージ基板や PCB メーカーに対し、より高い競争力を持つ電気検査ソリューションを提供します。

システムの特徴：
・リーク電流測定：2 GΩ 以上（250V 時）。

・抵抗測定精度　：5 mΩ ±3% 。
・高電圧測定　　 ：300V（特殊アプリケーションに対応）。