Built-in LCR計測システム

AI アプリケーションにおける高消費電力・高温動作の要求が高まる中、基板内部に実装される内蔵デバイスの数は急速に増加しています。これにより、内蔵素子の電気特性評価の重要性が一層増し、電気検査システムには高い安定性と精度が求められるようになりました。
当社では、このニーズに応えるため、LCR 計測機能を電気検査装置に直接統合し、測定能力を大幅に強化した新システムを提供します。

システムの特徴
LCR 測定モジュールを内蔵し、オープン／ショート検査と埋め込み部品の評価を同時に行うことが可能