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超高速斷短路測試檢查機

IC載板

自研 ASIC 核心電測技術,打造高速高精度 Open / Short 檢測平台

AI、高階封裝與高密度 IC 載板需求快速成長,使 Open / Short 電性測試面臨更高速度、更高精度與更高穩定性的挑戰。當線路密度提升、測試點數增加,傳統電測架構容易受到測試效率、系統穩定性與特殊高壓應用限制。

興城科技超高速斷短路測試檢查機搭載自主研發電測 ASIC 與 Tester Core Technology,針對 IC 載板、IC Package 與高密度線路提供高速、高精度 Open / Short 電性測試。系統具備 2GΩ 絕緣電阻測試能力、5 mΩ ±3% 電阻測試精度,並可支援特殊應用所需的 300V 高壓電測。

透過核心電測技術自主化,興城科技不僅提供設備,更提供可依客戶製程條件調整的電測平台,協助客戶提升全檢效率、降低漏檢風險,並強化高密度載板與封裝產品的出貨可靠度。

核心技術亮點

  • 核心電測技術自主化:搭載獨家 Tester Core Technology 自研 ASIC 晶片.
  • 超群絕緣電阻測試能力:最高可達 2GΩ.
  • 極致電阻測試精度:達5 mΩ ±3%.
  • 支援特殊高階應用之 300V高壓電測.