Built-in LCR 計測システム
AIアプリケーションにおける高消費電力・高温動作など高い負荷が掛かる、基板内部に実装されるデバイスの数は急速に増加しています。
これにより、内蔵素子の電気特性評価の重要性が一層高まり、電気検査システムにはより高い安定性と精度が求められています。
当社では、このニーズに応えるため、LCR 計測機能を電気検査装置に統合し、測定能力を大幅に強化した新システムを提供します。
システムの特徴
LCR 測定モジュールを内蔵し、オープン／ショート検査と埋め込み部品の評価を同時に実施可能。