2020 興城專利技術突破 – 日本專利:薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置

🎌 日本專利核准

薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置

專利號：JP 6668427
申請人：興城科技股份有限公司

興城科技取得日本專利，專利技術聚焦於TFT面板缺陷檢測，結合非接觸式掃描與模組化設備設計，有效提升檢測精度與產線效率，適用於AMOLED、LCD等多類型面板。

本項專利為我們國際技術佈局的重要一環，亦已實際導入量產應用，歡迎產業合作洽詢。

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