IC載板
150°C 高溫預先電測,降低 AI 高階封裝後段損失
在 AI 高階封裝製程中,IC 載板缺陷若於晶片組裝後才被發現,將造成高價晶片、封裝材料與製程時間的重大損失。隨著產品工作溫度與可靠度要求提升,僅在常溫條件下進行電性測試,已無法完整模擬實際應用環境下的潛在風險。
興城科技加熱電測機專為高階 IC 載板預先電測需求設計,可在 150°C 條件下進行電性驗證,協助客戶於組裝前篩除潛在缺陷。系統具備數十秒快速升溫能力與 ±1°C 精準控溫,可對應先進製程嚴苛的溫控要求。
透過接近實際工作條件的高溫電測,興城科技協助客戶降低後段封裝失效風險,減少高價晶片組裝後報廢成本,並提升 AI 高階封裝產品的量產良率與可靠度。


核心技術亮點
高效能快速加熱:可在數十秒內快速且均勻升溫至 150°C
卓越溫控實力:控溫精度高達 ±1°C ,完美對應先進製程嚴苛的溫控指標
