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玻璃基板量測系統

IC載板

對應次世代玻璃基板,掌握尺寸、孔徑與高溫翹曲關鍵品質

玻璃基板因具備尺寸穩定性、高頻高速應用潛力與先進封裝發展優勢,逐漸成為次世代 IC 載板的重要方向。然而玻璃材料在加工、鑽孔、金屬化與高溫製程中,對尺寸精度、孔徑孔深、輪廓變化與 Warpage 控制提出更高要求。

興城科技玻璃基板量測系統針對客戶玻璃基板製程開發需求,提供高精度、高效率的量測平台,可針對尺寸、輪廓、孔徑、孔深與高溫翹曲 Warpage 進行高速精密量測。透過量化數據,協助客戶掌握新材料製程穩定性與關鍵品質指標。

此方案適合應用於研發驗證、製程開發與量產規格建立階段,協助客戶提前發現加工偏移與可靠度風險,加速玻璃基板製程導入。

核心技術亮點

  • 多維度複合精密量測:整合尺寸、幾何輪廓、孔徑與孔深(TGV)量測功能
  • 先進高溫翹曲高速精密量測技術,動態模擬製程熱應力變化