半導體
封裝後金線偏移檢測,為高可靠度 IC 出貨把關
在車載、工控等高可靠度 IC 應用中,封裝後的內部導線品質直接決定產品壽命。WB-BGA 封裝於 Molding後,內部 Bonding Wire 極易因封膠流動、熱應力或製程偏移,產生線歪斜、Wire Close 或潛在短路風險。此類隱形缺陷無法透過常規外觀檢查有效全檢,一旦流入終端,將造成嚴重的可靠度災難與高風險。
興城科技推出 Molding 後 WB-BGA 線歪斜檢測方案,專攻 IC 封裝最終站的內部導線錯位問題,協助客戶在出貨前 100% 攔截不可視風險。
本方案突破傳統量測儀器的檢測盲區,具備同級領先的差異化偵測實力。適用於車用 IC(ATV)、工控 IC 終檢,全面提升出貨品質,將終端應用失效風險降至最低。


核心技術亮點
- IC 封裝最終階段不可視缺陷檢出能力
- 高效能內部導線錯位與 Wire Close 辨識檢查
- 新世代差異化檢測架構,提供同級領先的偵測實力
