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2020 興城專利技術突破 韓國專利-薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置

 

🇰🇷 韓國專利核准

TFT 面板測試方法及裝置

專利號:KR 10-2081815
申請人:興城科技股份有限公司(Centrum Technology Corporation)

本公司成功取得韓國專利,專利技術聚焦於TFT 面板之快速測試方法與檢測裝置設計,大幅提升面板產線測試效率與準確度。該技術具備高相容性與擴展性,適用於多種尺寸與顯示技術面板。

透過韓國智慧財產局正式註冊,此項技術為我們布局亞洲市場關鍵技術之一,展現興城科技在顯示器自動檢測領域的國際研發實力。


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