ASIC搭載 超高速 OPEN SHORT検査装置

AI、先端パッケージング、および超高密度IC基板の急速な進化に伴い、オープン／ショート（断線・短絡）電気検査には、測定速度、精度、稼働安定性において極めて厳しい要件が求められています。配線密度の高度化とテストポイント数の急増により、従来の電気検査アーキテクチャでは、スループットのボトルネック、安定性の低下、さらには高電圧テスト対応の限界といった課題に直面しています。

Centrum Technology 超高速オープン／ショート検査システム（Ultra-High-Speed Open/Short Test & Inspection System）は、独自開発の電気検査専用ASICと先端テスターコア技術を搭載しています。IC基板、ICパッケージ、およびファインピッチ配線パターン向けに特化設計されており、高速かつ超高精度なオープン／ショート検査を実現します。本プラットフォームは、最大2 GΩの絶縁抵抗測定機能、5 mΩ ±3%の配線抵抗測定精度を備え、ミッションクリティカルな用途向けにオプションで300 Vの高電圧電気テストにも対応可能です。

独自の電気検査コア技術を核とするCentrum Technologyは、単なるハードウェアの提供にとどまらず、お客様固有の製造プロセス要件に柔軟に適応する電気検査プラットフォームをお届けします。これにより、製造現場における全数検査（100%インスペクション）のスループット最適化、不良流出（アンダーキル）の撲滅、そして高密度基板・パッケージング製品の出荷品質および信頼性の向上を強力に支援します。