IC基板:3Dバンプ精密測定治具
高精度治具の設計から製造まで一貫体制により、安定した量産検査プラットフォームを構築
電気検査や精密計測工程では、装置の安定性は検査システム本体だけでなく、治具設計、位置決め精度、材料選定、コンタクト安定性、保守性にも左右されます。高精度治具は、測定再現性と量産安定性を確保するための重要な要素です。
Centrum Technologyは、専用治具の設計・製造技術を有し、お客様の製品仕様・試験条件・装置構成に応じて、高精度カスタム治具、3Dバンプ計測ステージ、高強度ガラス治具、特殊アプリケーション治工具を提供します。特に3Dバンプ計測ステージは、1μm未満の超精密位置決め精度に対応し、先端計測のニーズをサポートします。
検査装置に加えて、電気検査、画像処理、計測プラットフォーム、治具設計を統合し、量産工程向けの安定した検査ソリューションを構築します。
コア技術
- 超高精度計測ステージ3D
バンプ計測専用ステージを独自開発。機械精度1μm未満を実現しています。 - 高強度・高機能材料を用いた治具
高強度かつ低熱膨張特性を備えたガラス治具および特殊用途向けカスタム治工具を提供します。