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CoWoS/CoPoS対応フラックス2D/3D膜厚被覆率検査/計測システム

半導体:CoWoS/CoPoS対応フラックス2D/3D膜厚被覆率検査/計測システム

先端パッケージングにおけるAI計測の革新、ウェーハおよび基板上のフラックスを2D+3Dで計測

先端パッケージング工程では、プロセス技術の進化に伴い、フラックスの膜厚と被覆率の管理がウェーハ接合歩留まりを左右する重要な要素となっています。基板の大型化に伴う反りの問題に対して、従来のフラックス被覆率検査だけでは正確な定量評価が困難です。そのため、接合前に潜在的なリスクを確実に検出するには、包括的な2D被覆率解析とナノメートルレベルの3D膜厚計測を組み合わせる必要があります。

Centrum Technologyの「ウェーハ/基板向けフラックス2D+3D膜厚・被覆率検査/計測システム」は、独自のAI判定技術と先進的な光学計測技術を統合しています。独自アルゴリズムを用いて、大面積に配置されたパッドのフラックス被覆状態を高速に分類し、被覆率を算出します。さらに、指定した位置を対象に、サブミクロンレベルの3D膜厚および表面形状を計測します。得られた定量データを活用することで、塗布条件の最適化とクローズドループ工程制御を支援します。

本システムは、CoWoSをはじめとする先端パッケージングおよび先端基板工程において、フラックス塗布状態の確認、基板反り異常の解析、歩留まり改善効果の検証に適用できます。高額な工程損失が発生する前に根本原因を特定し、材料特性を把握するとともに、異常発生時の原因追跡時間を短縮します。

コア技術

・独自開発の 2D3D統合計測
AIによる2Dフラックス被覆率解析と3D膜厚計測を一つのシステムに統合した業界唯一のハイブリッドソリューションです。
・ナノメートルレベルの3D膜厚計測
先進の分光共焦点方式を採用し、100 nm以下の分解能を実現。半透明膜や微小な膜厚変化を高精度に評価可能です。
AIによる2D被覆率解析
特許取得済みの多方向照明とグレースケールしきい値アルゴリズムを組み合わせ、パッドの被覆状態を多段階に自動分類し、パッド被覆率と面内分布を定量化できます。
・インライン量産工程の最適化
計測データを塗布装置へフィードバックし、塗布条件をリアルタイムに調整するクローズドループ制御に対応しています。SECS/GEMおよびEFEMに対応し、インライン量産の要求に応えます。